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FT-3120 系列半自動(dòng)四探針測(cè)試儀
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FT-3120 系列半自動(dòng)四探針測(cè)試儀的詳細(xì)資料 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
FT-3120 系列半自動(dòng)四探針測(cè)試儀 一.功能描述: 四點(diǎn)探針標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法,采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸,減少人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響;參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn);測(cè)量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式或手動(dòng)點(diǎn)測(cè)模式,同一位置的重復(fù)測(cè)試或多點(diǎn)的面電阻測(cè)量,報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析;提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.
FT-3120 系列半自動(dòng)四探針測(cè)試儀 晶圓、非晶硅/微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測(cè)量;選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片;表面鈍化片;交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片;新型電極設(shè)計(jì),如電鍍銅電阻測(cè)量等;半導(dǎo)體材料分析,鐵電材料,納米材料,太陽(yáng)能電池,LCD,OLED,觸摸屏等.
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